捕获光学元件表面的微小缺陷和不规则性
在当代的光学制造领域，随着技术的不断进步，光学元件的加工精度要求愈发严格。这些超精密元件的表面质量，包括划痕和麻点等缺陷，直接关系到光学系统的性能。光学元件的形状多样性、材料的折射率差异以及多种涂层的应用，都为光学检测带来了挑战，使得高精度表面检测成为确保元件质量的关键步骤。干涉传感器，作为一种高分辨率的检测工具，能够有效应对这些挑战，提供快速、精准的光学元件表面检测方案。FIS4波前干涉传感器利用其先进的波前检测技术，能够捕获光学元件表面的微小缺陷和不规则性，从而保障光学元件在加工过程中达到理想的光学性能标准。这一技术不仅提高了检测效率，也显著提升了光学元件加工的精度，为光学制造业提供了可靠的质量保障解决方案。
测量优势
无需参考面，避免影响
高能脉冲光束质量检测
共路干涉，抗噪能力强
现场、实时、在线检测
行业领域
▎背面小凸台方镜
▎石英离轴主镜
▎碳化硅主镜
对不同波长的光学镀膜进行快速、准确的检测
为增强光学元件的透射、反射或偏振特性，提高元件的寿命和性能稳定性，许多精密光学元件都需要进行光学镀膜。但是，生产过程中造成的污渍、划伤、压伤、黑点、白点等各种缺陷难以避免，需要对镀膜的光学元件进行检测识别和分拣。精准的膜层厚度控制、恰当的材料选择和精细的薄膜结构设计是制备高性能光学镀膜的关键，而这不仅需要先进的沉积技术和严格的工艺控制，也依赖于精密的光学检测手段。FIS4波前干涉传感器能够对不同波长的光学镀膜进行快速、准确的检测，确保膜层的质量符合严格的工业标准，进而提升光学元件的整体性能。
测量优势
无需参考面，避免影响
高能脉冲光束质量检测
共路干涉，抗噪能力强
现场、实时、在线检测
行业领域
▎高真空镀膜系统
▎离轴抛物镜
▎标准球面镜加工过程
准确捕捉波前信息，为光学装调提供高精度检测
光学装调是光学制造和精密工程的核心环节，应用于各种高质量光学器件和精密设备的制造。它涉及使用先进的光学测量设备来精准测定器件的尺寸、形态、折射率和色散等关键参数，并据此进行精细加工与调整，以确保光学元件的精度和功能。随着技术的发展，光学装调在光学制造、光学测量和光学加工等多个领域的应用变得越来越广泛。在这个过程中，精准的检测和校正变得尤为重要，因为它们直接影响到光学系统的实际性能。干涉传感器由于其高精度的测量能力，在光学装调中扮演着重要的角色。
FIS4波前干涉传感器能够准确捕捉波前信息，从而为光学装调提供了必要的高精度检测工具，确保光学器件和系统能够达到设计上的理想性能。
测量优势
无需参考面，避免影响
高能脉冲光束质量检测
共路干涉，抗噪能力强
现场、实时、在线检测
行业领域
▎光学定中
▎光学装调
▎光学装调
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