可以识别和量化晶圆表面的细微缺陷和不规则性

在半导体制造加工行业中,晶圆的表面品质对器件的性能有着直接且重要的影响。因此,对晶圆表面粗糙度的精准测量成为了确保产品质量的关键步骤。表面粗糙度的测量主要是对晶圆表面微观结构的不平整度进行量化。

FIS4四波横向剪切干涉技术因其能够侦测极小的波前变化而在这一应用领域尤为突出。它可以识别和量化晶圆表面的细微缺陷和不规则性,这些是影响器件性能的重要因素。FIS4技术具备出色的抗振动特性,它可以直接集成到半导体生产线中,实时监控晶圆表面的粗糙度,确保每一片晶圆都符合严格的质量标准。

集成了FIS4技术的生产流程能够提供持续的质量监控,及时发现生产缺陷,减少废品率,从而优化生产效率和成本控制。此外,FIS4技术的非接触性质保证了在测量过程中不会对晶圆造成物理损伤,这对于维持高质量生产至关重要。通过自动化的数据分析,它还能提供快速且准确的反馈,进一步提升生产线的智能化和自动化水平。因此,FIS4传感器是提升半导体生产质量的重要工具。

测量优势

单帧图实现完整测量

 

◆ 粗糙度测量

◆ 支持在线测量

◆ 支持白光、紫外照明

高分辨率

 

◆ 多达512×512相位采样点

◆ 高动态范围

◆ 纳米级灵敏度

易于调节集成

 

◆ 小巧、紧凑

◆ 支持平行、会聚光束

◆ 超强的抗振性能

测量示例

晶圆表面粗糙度检测光路

      

晶圆表面粗糙度检测

测量演示

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