【国产自研】FIS4-DPHASE-1 四波动态干涉仪

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适用:球面、平面光学元件表面高精度面形检测

 利用了组合的双干涉系统:共路干涉稳定、无需移相、调整便捷,适于大口径长光程高精度稳定测量

 测量分辨率 2 nm

 测量重复性强 ≤1/1000λ(633nm波段)

 无需隔振、稳定性 & 抗性超强(适用工厂高精度检测)

 搭配五维调整架、适应各姿态调节、操作简便

 适配不同F数的消球差镜: F1、 F3、 F5 … …

 实时显示输出波前 PV值、RMS值、Zernike系数 … …

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FIS4四波动态干涉仪,基于共路四波横向剪切干涉原理。镜头通用;抗振性强,无需单独隔振平台;无需移相,易调节;性价比高;100%国产自研,高精度! 高抗振性! 实时观测!

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动态干涉仪平面测量光路如图所示:


激光器准直扩束,经分光镜和扩束镜,照射于被检平面,被检平面反射回的光束携带被测平面表面面型信息,通过缩束镜后,进入FIS4传感器进行面型信息解调。

动态干涉仪平面测量光路如图所示:


激光器准直扩束,经分光镜和扩束镜,照射于被检平面,被检平面反射回的光束携带被测平面表面面型信息,通过缩束镜后,进入FIS4传感器进行面型信息解调。

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动态干涉仪平面测量光路如图所示:


激光器准直扩束,经分光镜和扩束镜,照射于被检平面,被检平面反射回的光束携带被测平面表面面型信息,通过缩束镜后,进入FIS4传感器进行面型信息解调。

球面动态干涉仪,利用了一个组合的双干涉系统:


(aFIS4 四波剪切干涉测量系统,激光器准直扩束,经分光镜和标准消球差镜,照射于被检球面, 反射光束携带被测球面面型信息,进入FIS4传感器进行面型信息解调。避免了如菲索、泰曼格林等双光束干涉中被检光路受外界扰动影响。

(b泰曼格林球面干涉调整系统 。

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  系统整体通过滑块置于五维调整架上,可以通过锁紧手轮固定,方便用户使用过程中进行姿态的调整。

◆  干涉仪五维调整架如图所示,包含X方向手轮、Y方向手轮、Z方向升降手轮、偏摆手轮、俯仰手轮,分别可以调整干涉仪的X方向、Y方向、Z方向、偏摆角度和俯仰角度。

  系统整体通过滑块置于五维调整架上,可以通过锁紧手轮固定,方便用户使用过程中进行姿态的调整。

◆  干涉仪五维调整架如图所示,包含X方向手轮、Y方向手轮、Z方向升降手轮、偏摆手轮、俯仰手轮,分别可以调整干涉仪的X方向、Y方向、Z方向、偏摆角度和俯仰角度。

测量方式

共路单光路测试

光源波段

632.8±1nm

输出相位分辨率

512 x 512

标准消球差镜

F1\F3\F5\F7,……,32(根据需求选配)

动态范围(μm)

>250

精度PV值 (λ) 

≤1/20λ

RMS 测量重复性(λ)

≤1/1000λ

测量分辨率(nm)

2

实时显示帧频(Hz)

10

传感器随机配备

图像处理服务器

配备处理软件

《四波前剪切波前重构软件》能实时显示输出波前的:PV值、RMS值、POWER值

友好的软件交互界面,显示三维形貌、等高图

◆ 输出PV、RMS、POW、PSF、OTF、MTF等数值

◆ 可自由圆形、方形选取测量区域,选取后可自由调整

◆ 可实时动态采集显示,便于动态观察三维波形变化

◆ 可通过拉线测量高度值曲线、计算区域粗糙度等数值参数

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