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2025-03-11 00:00:00
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高科技的发展对精密干涉成像在光学微纳检测技术领域提出了更高要求,特别是对于干涉系统的现场化、实时化及数字化的检测应用具有迫切需求。四波前横向剪切干涉定量相位检测技术可以实现这个目标。通过在一个单一的干涉图中获取两个正交剪切方向的四个剪切波前来实现瞬态相位成像,由随机编码光栅和相位棋盘组成新颖的四波干涉传感器(Four-wave Interferometric Sensor,FIS4)。报告介绍了FIS4干涉传感器的四波剪切干涉相位成像原理及波前重构方法,在测量精度方面,四波剪切干涉利用光的干涉,能够实现非常精细的光程差灵敏度,可用来测量纳米级别甚至更小尺度的光程差变化。由此介绍了FIS4干涉波前传感器的多种应用:光学系统像差、激光波前及高速流场检测;FIS4干涉传感器在自适应光学系统中的应用、基于四波剪切的FIS4球面动态干涉仪、四波剪切的白光轮廓仪检测及在生物领域的3D活体细胞显微镜等。FIS4在微纳光学检测、生物医学等众多领域展现出广阔的应用前景。这一技术的发展不仅为相关领域提供了新的研究工具,也为跨学科的创新和发现开辟了新的可能性。


杨甬英 教授 浙江大学光电学院教授、博士生导师。
现为中国光学学会光学测试专业委员会副主任委员、全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分委会委员。作为项目负责人承担了多项国家自然科学基金重大科学仪器专项、国家自然科学基金面上项目、国防973、863专项配套项目。多年来从事精密干涉测试技术及机器视觉方向的研究工作,第一作者出版“先进干涉检测技术及应用”、“新型共路干涉仪”专著。2000年以来,专业致力于基于机器视觉的表面缺陷智能化数字化检测研究、新颖的(Four-wave Interferometric Sensor)FIS4共路剪切数字波前干涉传感器技术研究。作为负责人,带领团队研发完成了多项科研任务,在大口径光学元件缺陷数字化检测、FIS4数字波前干涉传感器领域已处于国际领先水平,为国家重大专项及产学研转化做出了贡献。项目成果受到国家重大专项惯性约束聚变专项组长张维岩院士、军委张又侠上将的专场视察和表扬,科研成果曾获国家科技进步三等奖、国家自然基金及联合基金特优奖、宝钢优秀教师奖等、发表论文200余篇、其中 SCI 收录 100余篇,主导编制颁布国家标准_GBT 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法,获国际、国家发明专利50余项。

