慕尼黑上海光博会邀请函|晶耐科光电 · E7-7372展台

 地址：上海新国际博览中心>

 展位号：E7馆 检测与质量控制

            NO.7372晶耐科光电 >

展会概况 ▼

晶耐科光电将参展2026年3月18日–20日LASER World of Photonics China(慕尼黑上海光博会)。

欢迎莅临现场，与我们深入交流，共话合作与发展。

展位号：E7馆7372（建议从3号入口进入E7检测与质量控制展馆，直达展位）

参展产品 ▼
Exhibition Product

FIS4-四波干涉传感器

适用：实时光学波前检测、光学系统测量、微纳轮廓测量、定量相位成像

FIS4四波干涉传感器由浙江大学、新加坡南洋理工大学教授团队倾力开发，拥有国内专利技术，将衍射与干涉相结合，实现了共路四波横向剪切干涉，具有超强的检测灵敏度与抗振性能，无须隔振即可实现实时、高速动态干涉测量；实时测量显示帧率达10帧以上。同时FIS4传感器具有512×512（26万个相位点）的超高相位分辨率，测量波段覆盖200nm~15μm，测量灵敏度达2nm，测量重复性优于1/1000λ（RMS）。可用于激光光束质量分析、等离子体流场检测、高速流场分布实时测量、光学系统像质评价、微观轮廓测量及生物细胞定量相位成像等。

FIS4-四波动态干涉仪

适用:平面、球面光学元件表面高精度面形检测主要特点：

◆  共路干涉、无需移相、适于大口径长光程高精度稳定测量

◆  测量分辨率2 nm

◆  测量重复性强 ≤1/1000λ（633nm波段）

◆  无需隔振、稳定性&抗震性超强（适用工厂高精度检测）

◆  搭配五维调整架、适应各姿态调节、操作简便

◆  适配不同F数的消球差镜：F1、F3、F5 … …

◆  实时显示输出波前PV值、RMS值、Zernike系数 … …

SAI600高精度光学元件表面缺陷检测仪

适用: 光学掩膜片、平面光学玻璃、光学窗口片、滤光片、硅片等

主要特点：

◆  检测元件尺寸：最大兼容600mm×600mm尺寸

◆  检测元件厚度范围：7mm~50mm

◆  检测模式：兼容明场、暗场检测

◆ 检测分辨率：2x：2.5um；10x：0.5um；20x：0.25um；50x：0.1um (仅用于复判)；

◆  检测灵敏度：2x：2.5um；10x：0.5um；20x：0.25um；

◆  产能验证：单片测试时长≤0.5h（客户提供最大样品检测，尺寸＜500mm*400mm，排除上下样品时间，全片检测，检测时间≤0.5h@10X）

光学元件内部缺陷检测仪

适用：大尺寸光学元件内部杂质、气泡检测

主要特点：

◆ 检测元件尺寸：最大检测元件尺寸：500mmx500mm

◆ 检测精度：5μm

◆ 检测效率：<2小时(500mmx500mm尺寸)

◆ 检测准确性：优于98%

◆ 检测重复性：优于99%

关于我们 ▼
About Us

杭州晶耐科光电技术有限公司是一家集研发、制造和销售于一体的高科技企业，专注于提供高端光学检测和量测装备。以浙江大学教授领衔的研发团队作为技术核心，公司不断推动光学检测技术的创新边界，开发出了包括缺陷检测、干涉测量及智能尺寸量测与定位设备系列产品，并在光学超精密加工、航空航天半导体制造、国防科技以及生物技术等多个高精尖领域得到广泛应用。

杭州晶耐科光电技术有限公司全方位销售公司为江苏愚程光感科技有限公司。愚程光感为合作经销商及终端用户提供全系产品销售、技术咨询和售后服务，为用户提供更为精准、高效的检测解决方案。

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