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【免费试用】支持特殊波段定制

2024-05-23 09:56:19

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免费提供试用,专家全程指导搭建光路 无论何种场景应用,我们都会为您提供“全方位”的解决方案
  FIS4 四波干涉原理&测量过程




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干涉测量是基于光波的叠加,在干涉场中产生亮暗交替的干涉条纹,通过分析处理干涉条纹即可获取被测量的有关信息。


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传统典型双光路干涉光路


存在问题:易受振动干扰,需要移相过程,测量过程难调节,难以应用于工厂环境。


 FIS4干涉原理 

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基于共路四波横向剪切干涉原理


 FIS4测量过程演示 



优势:单光路干涉超强抗振性能,无需参考光,布局简单,无需专用干涉器件,调节快捷简便,可以实时成像,无需移相过程,特别适应用于工厂环境的高精度检测。

  FIS4 产品系列





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FIS4-HR 高分辨率

四波干涉传感器

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FIS4-UHR 超高分辨率

四波干涉传感器

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FIS4-HS 超高速

四波干涉传感器

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FIS4-NIR 近红外

四波干涉传感器

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FIS4-Cell 生物细胞

四波干涉传感器

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FIS4-UV 紫外

四波干涉传感器


支持短波紫外、远红外及超远红外特殊波段的定制


  FIS4 应用方案






实时光学波前检测

激光光束波前检测

气动光学、高速流场

自适应光学

激光损伤阈值实时测量

超表面、超透镜波前测量

气体等离子体密度测量


光学系统测量

光学系统像差测量

平面、球面面形测量

光学系统校准

光学窗口片检测

光学球面面形测量

材料内部晶格分布测量


微纳轮廓测量

晶圆表面粗糙度检测

光学元件表面粗糙度检测

精密元件刻蚀深度测量

超光滑金属表面粗糙度测量


定量相位成像

无标记3D活体细胞检测

生物组织检测

生殖细胞检测

透过式微纳结构检测


  FIS4 行业解决方案




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光学加工
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