FIS4-NIR红外波前传感器测量的前沿应用

【国产自研 创新突破 赋能精准测量】

近红外波段（900nm-1200nm）在空间与地面应用中具有重要价值，广泛用于军事侦察、天文观测、环境监测、工业检测和医疗诊断等领域，尤其在光学系统的设计与验证中不可或缺。然而，传统波前传感技术在该波段面临诸多挑战，如光源相干性对测量精度的干扰，严重限制了高精度波前测量的实现。FIS4-NIR基于共路四波横向剪切干涉技术，针对近红外波段开发出了一套高精度波前测量解决方案。

FIS4-NIR干涉传感器（如图1）专为红外波段检测应用而设计，具备512×512高分辨率与13.3mm × 13.3mm大靶面，高达260μm的大动态范围。支持900nm-1200nm等多个红外波段范围内进行高精度波前测量。

（图一）FIS4-NIR干涉传感器

光学系统像差测量：

在高精度光学系统的测试与装调过程中，FIS4-NIR可用于实时监测系统的波前像差，确保光学元件在近红外波段（900nm-1200nm）内的成像质量与系统一致性。其高分辨率与大靶面设计，能够帮助工程师快速发现光学系统中的波前畸变问题，指导精准调整，从而提高系统性能与稳定性。

光学系统像差测量示例

超表面波前测量：

在超表面器件的研发与性能验证过程中，FIS4-NIR能够高精度测量其对近红外波段光场的调控效果。通过对复杂波前的实时重建，工程师可以准确评估超表面对入射波的相位调控能力，及时优化设计参数，提升器件的功能效率与制造良率。