案例分享▕ 1064nm波段随着电流变化波前变化测试

客户通过FIS4四波干涉传感器（Four-Wave Interferometric Sensor）测量激光器的设计和PV值。用于激光器晶体的畸变参数掌控调整，便于后续激光器光源的其它控制设计。

01. 客户需求 

1、测试波段 633nm可见光波段，1064nm近红外波段。

2、做硬盘碟片的波前测量，纳米级平整度测试，直径97mm。需要窗口玻璃畸变、平面元件面形检测，光学系统像质检测。

3、客户应用传感器的光路布局：

633nm可见光波段的光路图，①,②前后都要检测，检测1mm晶体，检测面是非球面类似球面。1064nm近红外波段用于检测物镜的，正常状态下是平面，工作状态下会有畸变，具体畸变量不知道，就是要测畸变量。可以按照f50厚透镜来评估。

02. 现场测试情况描述 

分别用FIS4-UHR（633nm）和FIS4-NIR（1064nm）两款波前传感器进行测试，响应效果都很好。

由于激光器本身功率很高，光束经过了三到四次分光。在最终出光口，光斑尺寸为6-8mm，功率衰减至毫瓦（mW）级别。在此功率下，全口径PV（峰谷值）波前测量结果稳定在100nm左右。

我们观察到，当功率低于10,000单位时，调整电流主要影响光强，而PV值基本保持稳定。然而，一旦功率超过10,000单位，PV值开始出现显著变化。由于现场衰减片不匹配，为了防止损坏设备，我们没有进行更高功率的测试。

此外，我们还在激光器初始出光位置（晶体前约1mm光斑）通过改变电流参数测试了波前变化。这些结果与上述发现一致。

03. 测试结果 

经过电流功率的调整用于激光器晶体的畸变参数掌控，便于后续激光器光源的其它控制设计，效果很好，也很符合现场需求。

04. 测试报告 

一、测试内容：高功率的泵浦光会使激光晶体发生热形变，产生晶体热透镜效应，客户以前通过输出光的光强分布及光斑大小进行分析，现在希望通过波前进行分析。使用 FIS4-UHR四波干涉传感器（Four-Wave Interferometric Sensor）对待测 1064nm 激光器进行测试，分别进行绝对测量和相对测量。将激光器第二能级强度调节至 0、5000 、6000 、7000、8000 、9000、10000，采集测试数据。将二级强度 0、5000 、6000 、7000、8000 、9000、10000 数据与理想背景进行存储相减，得到绝对测量结果。将5000 、6000、7000、8000 、9000、10000 数据与二级强度 0 数据进行存储相减，得到相对测量结果。

二、测试结果

1.绝对测量模式：

 2.相对测量模式：

在绝对测量模式和相对测量模式下，两种模式 PV 随二级强度变化的趋势相一致。

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