《红外与激光工程》会刊【特邀文章】基于四波前横向剪切干涉的波前传感技术与应用
高科技的发展对精密干涉成像提出了更高的要求。在现代光学和生物医学领域,无标记成像技术不依赖于传统的染料或荧光标记,进行3D活细胞原位观察和分析,促进定量相位显微术的发展。在光学检测技术领域,对于干涉系统的现场化、实时化的应用具有迫切需求,如激光波前的瞬态检测分析、高速流场检测、自适应光学的检测和控制、高精度光学系统像差分析等都迫切需要一个紧凑型、抗环境干扰、瞬态成像的干涉系统。为此,针对针对这些需求,全面介绍了四波前横向剪切干涉相位成像技术的原理、发展历程、波前重构方法以及其广泛的应用。四波前横向剪切干涉仪能够通过在一个单一的干涉图中获取两个正交剪切方向的四个剪切波前来实现瞬态相位成像,由随机编码光栅和相位棋盘组成新颖的四波干涉传感器(Four-waveInterferometric Sensor,FIS4)。FIS4干涉传感器凭借其独特的优势,如紧凑性、鲁棒性、高时间分辨率以及与现有显微系统的兼容性,在生物医学、光学测量、材料表征等众多领域展现出广阔的应用前景。这一技术的发展不仅为相关领域提供了新的研究工具,也为跨学科的创新和发现开辟了新的可能性。
第二十届全国光学测试学术交流会
第二十届全国光学测试学术交流会 ·第二十届全国光学测试学术交流会于2024年9月20-22日在浙江省余姚市召开,本届会议由浙江省余姚市光电信息产业创新服务综合体
定量相位成像解决方案
定量相位成像解决方案 Quantitative phase imaging01无标记3D活体细胞检测 四波横向剪切干涉(FIS4)技术在无标记3D活体细胞检测中
【免费试用】支持特殊波段定制
免费提供试用,专家全程指导搭建光路 无论何种场景应用,我们都会为您提供“全方位”的解决方案
横向剪切干涉测试技术——玻璃平板横向剪切干涉法
玻璃平板是一类常见的用于产生横向剪切的装置。由于平板具有一定的厚度,所以平板前后两个面的反射光会产生一定的横向偏移。根据平板所起的作用,又可分为剪切分光平板法和插入式平板法。
横向剪切干涉测试技术——横向剪切干涉的基本概念
横向剪切干涉技术[1]是一种利用两个形状完全一致、仅有微量横向偏移的波前使其在相互重叠区域发生干涉的高精度光学测量技术。横向剪切干涉仪与传统的泰曼格林(Twyman-Green)干涉仪或菲索(Fizeau)干涉仪相比,最 显著的特点是没有参考光路,因而也不需要参考镜。
怎样得到稳定的光学频率梳?
光学频率梳就像是一把拥有精密刻度的光尺,一般的仪器以毫米、毫秒为单位,而光学频率梳的精确度,在长度的测量上胜过纳米,在时间上则胜过飞秒、甚至达到阿托秒。