光学系统校准_传感器_干涉测量_波前传感器-江苏愚程光感

高精度识别和校正光学系统中的像差，提高系统的成像质量

FIS4 四波剪切干涉技术在光学系统校准中的应用主要是基于其能够高精度测量波前误差的能力，可以高精度识别和校正光学系统中的像差，提高系统的成像质量。为像差识别、系统性能评估、光学元件调整、反馈控制、光学系统热稳定性等提供了精准的测量方法，有助于提高光学系统的精准度和可靠性，将成为现代光学工程中不可或缺的工具。

测量优势

单帧图实现完整测量

◆ 波前分布

◆ 像差分析

◆ 像质评价

高分辨率

◆ 多达512×512相位采样点

◆ 高动态范围

◆ 纳米级灵敏度

易于调节集成

◆ 小巧、紧凑

◆ 支持平行、会聚光束

◆ 超强的抗振性能

测量示例

▎光学系统校准光路

▎光学系统校准

测量演示

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